本图片来自优尼康科技有限公司提供的Lumina AT2 薄膜缺陷检测仪,型号为AT2的lumina半导体行业专用仪器设备,产地为美洲美国,属于品牌,参考价格为面议,公司还可为用户供应高品质的Filmetrics F3 光学膜厚测量仪、KLA iNano 纳米力学测试仪等仪器。
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