Bruker探针式轮廓仪系统Dektak XTL台阶仪图片

本图片来自铂悦仪器(上海)有限公司提供的Bruker探针式轮廓仪系统Dektak XTL台阶仪,型号为DektakXTL布鲁克测量仪器,产地为美洲美国,属于品牌,参考价格为面议,公司还可为用户供应高品质的三元催化检测仪CTX德国布鲁克BRUKER进口手持式光谱仪/便携式进口光谱仪等仪器。
铂悦仪器(上海)有限公司是仪器信息网的金牌,合作关系长达19年,工商信息已通过人工核验,获得仪信通诚信认证, 铂悦仪器客服电话:400-801-8356,请放心选择!

查看 Bruker探针式轮廓仪系统Dektak XTL台阶仪 信息

铂悦仪器(上海)有限公司

铂悦仪器(上海)有限公司

金牌19年

营业执照已认证

品牌性质: 一般经销商
厂商荣誉:

仪器核心参数

产地类别: 进口
测量原理: 电容式
测量范围: 二维表面轮廓测量 可选三维测量
精度: 0.5%
探针尖半径: 50nm 至 25μm
探针作用力: 0.3-15mg
扫描长度: 55um
台阶高度重复性: 5Å, 1σ 在 1μ m 台阶上
垂直方向分辨率: 最大 1Å ( 6.55μ m 垂直范围下)
测量样品最大尺寸: 300mm

同类推荐

为您推荐相似的台阶仪

推荐专场
同类仪器
该厂商仪器
相关厂商
推荐品牌
最新产品
仪器攻略