美国Lumina晶圆表面缺陷检测仪图片
本图片来自上海艾尧科学仪器有限公司提供的美国Lumina晶圆表面缺陷检测仪，型号为AT1的儒米娜半导体行业专用仪器设备，产地为美洲美国，属于品牌，参考价格为面议，公司还可为用户供应高品质的润滑脂防腐蚀性能测定仪、铁量仪等仪器。
上海艾尧科学仪器有限公司是仪器信息网的金牌，合作关系长达6年，工商信息已通过人工核验，获得仪信通诚信认证，
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