长方电脑型偏光熔点仪 XPN-100E/XPN-100Z图片
本图片来自上海长方提供的长方电脑型偏光熔点仪 XPN-100E/XPN-100Z，型号为XPN-100E/XPN-100Z的长方物性测试仪器及设备，产地为中国大陆上海，属于品牌，参考价格为面议，公司还可为用户供应高品质的长方数显型测量投影仪CPJ-3015、长方电脑型测量投影仪 98JPC等仪器。
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