本图片来自东谱科技(广州)有限责任公司提供的东谱科技电致发光综合测量仪/IVL测试系统/器件寿命测试系统,型号为NovaLum的东谱科技光学仪器及设备,产地为中国大陆广东,属于品牌,参考价格为面议,公司还可为用户供应高品质的东谱科技瞬态光电流/光电压/光电荷测量仪TranPVC、东谱科技稳瞬态荧光光谱仪 HiLight HS15等仪器。
东谱科技(广州)有限责任公司是仪器信息网的免费,合作关系长达0年,工商信息已通过人工核验,获得仪信通诚信认证,
请放心选择!
同类推荐
为您推荐相似的其它光学测量仪
电子/空穴迁移率测量
东谱科技多通道电致发光特性测量系统EL-Lab
东谱科技太阳能电池光伏特性测量系统
东谱科技多通道光伏器件稳定性测量仪
东谱科技光电一体化时间分辨光谱仪TRPL/稳瞬态荧光光谱仪/电致瞬态光谱仪
宽时域时间分辨单光子计数仪
东谱科技太阳能电池/光探测器量子效率、光谱响应、噪声、瞬态特性综合测量仪
东谱科技光致发光量子效率测量系统HiYield-PL
Stea 连续半导体光源
东谱科技稳瞬态荧光光谱仪 HiLight HS15
东谱科技电吸收光谱仪Excion
半导体材料迁移率测量仪
东谱科技飞行时间法迁载流子移率测量系统TOF
东谱科技瞬态光电流/光电压/光电荷测量系统TranPVC
东谱科技电致发光量子效率测量仪HiYield-EL
Pina皮秒半导体激光器
NanoQ纳秒半导体激光器
Mic 微秒脉冲半导体光源
东谱科技瞬态光电流/光电压/光电荷测量仪TranPVC
瞬态光电压TPV测试
大量程工业粉尘传感器TSP高浓度粉尘监测车间工厂矿场诺方
自动光谱反射仪
非接触式光学干涉表面轮廓形貌仪
W系列白光干涉微观三维形貌测量仪
非接触式光学3D表面形貌测量系统
FS70Z-TH 用于半导体检测显微镜 (1x-2x管镜头 C-mount)
SuperViewW白光干涉微观形貌测量仪
SuperViewW国产白光干涉光学轮廓仪系统
多模光纤耦合高功率泵浦激光器 915nm 5W 台式
全自动金属清洁度检测仪
注射剂瓶光程差测试仪
中图chotest自动三维白光干涉光学轮廓仪
SuperViewW光学三维表面形貌测量仪
纳米级微观三维形貌3D白光干涉仪
闪测仪快速批量测量仪器
泰科纳双视野拼接闪测仪
泰科纳双视野闪测仪
全自动型影像测量仪
泰科纳全自动高精度影像仪
泰科纳自动影像测量仪
精密纳米级白光干涉仪微尺寸检测仪
中图W系列高精密非接触光学轮廓测量仪
中图高精度纳米量级白光干涉测量仪
三维光学轮廓仪
三维光学轮廓仪
美国SPIR4 Laser其它光学测量仪价格 典型采购用户详情了解
超导单光子探测器(SSPD)报价 有哪些特点
OKO 15mm 37通道微机械变形镜价格 查厂商选仪器看报价
越联YL-7806其它光学测量仪基本信息 使用亮点介绍
橡胶拉力试验机多少钱 查厂商选仪器看报价
中教金源ALTT-UVA其它光学测量仪基本信息 售后服务怎么样
MMRK20其它光学测量仪基本信息 典型采购用户详情了解
SolutionixREXCAN 4 3D扫描仪其它光学测量仪是什么 使用亮点介绍
ThorlabsMAX350其它光学测量仪是什么 生产厂商全面解析
埃赛力达4401-596-000-20|4401-516-000-20其它光学测量仪怎么样 生产厂商全面解析
拓普GY-21其它光学测量仪基本参数 使用亮点介绍
便携式傅立叶红外气体分析仪是什么 查厂商选仪器看报价