分立器件动态参数测试系统图片
本图片来自陕西开尔文测控技术有限公司提供的分立器件动态参数测试系统，型号为KEW6500（1）的开尔文测控半导体行业专用仪器设备，产地为中国大陆陕西，属于品牌，参考价格为80万 - 100万，公司还可为用户供应高品质的CNAS测试服务、碳化硅器件测试仪等仪器。
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