LAZIN碳化硅SiC晶圆缺陷检测系统LODAS图片
本图片来自北京欧屹科技有限公司提供的LAZIN碳化硅SiC晶圆缺陷检测系统LODAS，型号为LODASTM的列真半导体行业专用仪器设备，产地为亚洲日本，属于品牌，参考价格为面议，公司还可为用户供应高品质的非接触三维形貌仪、Photonic Lattice晶圆应力双折射缺陷检测设备PA-300-XL 等仪器。
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