膜厚测量仪(测量厚度1nm~1.8mm)图片

本图片来自上海昊量光电设备有限公司提供的膜厚测量仪(测量厚度1nm~1.8mm),型号为MProbe昊量相关仪表,产地为美洲美国,属于品牌,参考价格为面议,公司还可为用户供应高品质的手持式磁场相机mageye宽带飞秒光纤激光器-宽带相干反斯托克斯拉曼专用等仪器。
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