Adamand Namiki 光干涉内周面测量仪 NMH-01图片
本图片来自北京欧屹科技有限公司提供的Adamand Namiki 光干涉内周面测量仪 NMH-01，型号为NMH-01的安达满·纳米奇测量仪器，产地为亚洲日本，属于品牌，参考价格为面议，公司还可为用户供应高品质的球坑测厚仪、Micro Support微区取样器AXIS Pro等仪器。
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仪器核心参数
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