四探针测试系统（for 300/450mm wafer）图片
本图片来自南京伯奢咏怀电子科技有限公司提供的四探针测试系统（for 300/450mm wafer），型号为SR5000N的AIT半导体行业专用仪器设备，产地为其他其他，属于品牌，参考价格为面议，公司还可为用户供应高品质的太阳能电池 桌上型多功能电致发光缺陷检测仪、Mini真空探针台（Vacuum Chamber Probe station）等仪器。
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