SE-VE光谱椭偏仪图片

本图片来自武汉颐光科技有限公司提供的SE-VE光谱椭偏仪,型号为SE-VE颐光科技光学仪器及设备,产地为中国大陆湖北,属于品牌,参考价格为面议,公司还可为用户供应高品质的SR-Mapping反射膜厚仪SE-VF 光谱椭偏仪等仪器。
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武汉颐光科技有限公司

武汉颐光科技有限公司

金牌5年

营业执照已认证

品牌性质: 一般经销商
厂商荣誉:

仪器核心参数

产地类别: 国产
光谱范围: 400-800nm
光斑尺寸: 2-4mm
入射角: 65°定角
测量速度: ≦15s(单点)
样品尺寸: 4-8英寸
膜厚测量准确度: 0.5nm@100nm标片
测量重复性: ≦0.005nm

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