赛默飞/FEI应用于材料科学的扫描透射电镜Themis ETEM图片
本图片来自上海澳信检测技术有限公司提供的赛默飞/FEI应用于材料科学的扫描透射电镜Themis ETEM，型号为Themis ETEM的赛默飞光学仪器及设备，产地为美洲美国，属于品牌，参考价格为1500万 - 2000万，公司还可为用户供应高品质的 数字型超声波探伤仪 、三维扫描检测逆向设计服务等仪器。
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