集成电路失效分析设备-短路开路漏电定位图片
本图片来自北京伯英科技有限公司提供的集成电路失效分析设备-短路开路漏电定位，型号为EFI Microscope的物性测试仪器及设备，产地为美洲美国，属于品牌，参考价格为1400万，公司还可为用户供应高品质的多功能扫描探针显微镜（纳米力学测试）、分子层沉积系统MLD等仪器。
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