本图片来自优尼康科技有限公司提供的CDE DualMap 薄膜厚度测量仪,型号为DualMap 薄膜厚度测量的瑞斯迈物性测试仪器及设备,产地为美洲美国,属于品牌,参考价格为面议,公司还可为用户供应高品质的Filmetrics F40 光学膜厚测量仪、Filmetrics F60-t薄膜厚度测量仪等仪器。
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