本图片来自滨松光子学商贸(中国)有限公司提供的C11627-01 纳米膜厚测量仪系列,型号为C11627-01的滨松测量仪器,产地为亚洲日本,属于品牌,参考价格为面议,公司还可为用户供应高品质的通用型条纹相机、滨松CMOS线阵图像传感器S11639-01等仪器。
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