本图片来自滨松光子学商贸(中国)有限公司提供的C12562 纳米膜厚测量仪系列,型号为C12562的滨松测量仪器,产地为亚洲日本,属于品牌,参考价格为面议,公司还可为用户供应高品质的高功率激光二极管线阵模块、电子倍增EM-CCD相机ImagEM X2 等仪器。
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