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动态法陶粒比表面分析仪图片

本图片来自北京精微高博仪器有限公司提供的动态法陶粒比表面分析仪,型号为JW-DX.精微高博物性测试仪器及设备,产地为中国大陆北京,属于品牌,参考价格为7.6万,公司还可为用户供应高品质的(专业非标定制)JW吸附穿透实验装置DX正极材料专用 比表面积测试仪(1小时28个样品)等仪器。
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北京精微高博仪器有限公司

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白金20年

营业执照已认证
400-801-5916

品牌性质: 生产商
厂商荣誉:

仪器核心参数

仪器种类: 比表面分析仪
产地类别: 国产
分析站数目: 4
测试范围: 比表面0.01m2/g至无上限
压力范围: P/P0为0.3或0.4
测试理论: 流动色谱法,低温氮吸附,常温脱附
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