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美国Rtec双模式三维形貌仪(白光干涉+原子力显微镜)图片

本图片来自德可纳利(上海)仪器有限公司-KD Scientific中国代理提供的美国Rtec双模式三维形貌仪(白光干涉+原子力显微镜),型号为WLI1000Rtec测量仪器,产地为美洲美国,属于品牌,参考价格为50万 - 100万,公司还可为用户供应高品质的--等仪器。
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德可纳利(上海)仪器有限公司-KD Scientific中国代理

品牌性质: 一般经销商
厂商荣誉:

仪器核心参数

产品种类: 非接触式轮廓仪/粗糙度仪
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