晶圆/硅片划遗线检测/统计Slip Finder图片
本图片来自赛伦科技提供的晶圆/硅片划遗线检测/统计Slip Finder，型号为YIS-200SP/YIS-300SP/YIS-200HM/YIS-300HM的半导体行业专用仪器设备，产地为美洲美国，属于品牌，参考价格为面议，公司还可为用户供应高品质的FSM128非接触薄膜应力测试、扩散炉/LPCVD/diffusion and LPCVD Furnace等仪器。
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