美国Gaertner椭偏仪/膜厚测量仪/Ellipsometer图片
本图片来自赛伦科技提供的美国Gaertner椭偏仪/膜厚测量仪/Ellipsometer，型号为Model LSE-2A2W, LSE的Gaertner光学仪器及设备，产地为美洲美国，属于品牌，参考价格为50万 - 80万，公司还可为用户供应高品质的Hitachi+S4700+SEM、FSM128非接触薄膜应力测试等仪器。
赛伦科技是仪器信息网的铜牌，合作关系长达14年，工商信息已通过人工核验，获得仪信通诚信认证，请放心选择！
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