探针式表面轮廓仪DektakXT图片

本图片来自布鲁克纳米表面仪器部(Bruker Nano Surfaces)提供的探针式表面轮廓仪DektakXT,型号为DektakXT布鲁克测量仪器,产地为美洲美国,属于品牌,参考价格为面议,公司还可为用户供应高品质的原子力显微镜Anasys afm+ 场扫描共聚焦成像系统BrukerOpterra II等仪器。
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布鲁克纳米表面仪器部(Bruker Nano Surfaces)

布鲁克纳米表面仪器部(Bruker Nano Surfaces)

白金20年

营业执照已认证
400-895-0897

品牌性质: 一般经销商
厂商荣誉:
科学仪器行业领军企业

仪器核心参数

产品种类: 接触式轮廓仪/粗糙度仪
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