新品上市｜FLIR X系列科研级热像仪，确保测试不丢帧、无数据损失！

FLIR科研级红外热像仪在实验研发领域的应用很普遍，其能帮助研发人员捕捉所有细微变化的瞬间。近期，FLIR科学级研发红外热像仪家族又新增四位新成员：X6980 HS高速系列和X8580高分辨率系列。具体有哪些新优势呢？一起来围观下~

01 高清记录，高效存储

全新FLIR X-HS系列热像仪可同时适用于中波红外(MWIR)和长波红外(LWIR)光谱，其连接和机载记录功能较以往型号表现更出色。使用它，用户可体验全新的10GigE和CoaXPress（CXP）2.1高速接口，它可提供一小时以上的快速图像流式传输和数据传输功能，能在提升效率的同时确保高数据保真度。

此外，其机载记录选配件包括可拆卸的非易失性存储器快速通道(NVMe)固态硬盘(SSD)，保证能够无损记录关键红外事件。4TB高速SSD现已成为所有X系列HS热像仪的标配，利用SSD扩展录制，用户可无丢帧地将超过1.5小时的详细红外数据记录在热像仪上。

02 无缝传输，轻松共享

全新FLIR X-HS系列热像仪让您能够轻松将完整录像从SSD传输至计算机，确保红外数据随时可供分析。借助它可打造精确的计时系统，实验室或现场操作人员可使用无损机载记录、高速传输、数据传输及触发和同步功能，确保事件记录精确、低延时。

X-HS系列热像仪还搭载了四位电动滤镜轮，支持FLIR电动调焦镜头（可实现更精确的对焦和远程对焦），可提供更高质量的记录，节省操作时间，使用户更从容应对动态数据采集环境。

03 专业软件，定制需求

通过搭配FLIR Research Studio专业软件，借助简化、直观的图形用户界面(GUI))和独特的功能集，科学家、工程师、研究人员和质量保证经理可利用FLIR X-HS系列热像仪混合数据集并同步多个传感器，例如与其他FLIR A系列、X系列和T系列热像仪同步，创建综合全面的分析报告，为决策提供有效支持。

根据电子板级设计和测试、国防研究及其他商业和学术用例等特定应用的具体需求，在FLIR平台上实现标准化的组织，将能在降低成本的同时提升互换性。

全新FLIR X系列科学红外热像仪可谓是国防、学术和商业研究与测试应用的行业标准，适用于全世界需要高速或高分辨率红外数据采集功能的大多数关键测试场景，主要应用在弹道学、无损检测、作应力图、PCB和电子部件测试、辐射测量等领域。