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台式XTU-4C涂镀层测厚仪仪器分析优势
XTU-4C是一款设计结构紧凑，模块精密化程度较高的镀层测厚仪，采用了下照式C型腔体设计，不但可以测量各种微小样品，即使大型超出样品腔尺寸的工件也可测量，是一款测量涂镀层成分及厚度性价比高、适用性强的机型。
台式XTU-4C涂镀层测厚仪分析优势：
1.即放即测
※C型样品腔体设计便于放置样品
※放置样品后,仅需几秒便能出检测结果
※无损分析:无需破坏样品
2最佳设计，快速找点
※高分辨率和高放大倍率的彩色数码影像装置,画面清听
※通过样品整体图像快速找到测量区域
※搭配高精度千分尺式移动滑轨，实现微小区域下精确、快速对准样品焦点
3.一键测里
※键无标样测试(无需镀层标样)※几秒内即出结果且精确稳定
※白动识别物料,规避误选工作区带来的测试误差
※先进的EFP算法
强大的EFP多元迭代数据库,搭载变焦装置及高集成光路系统,轻松解决各种异形件、微小样品(最小达0.002mm2)、多镀层、重复镀层、合金镀层的膜厚及成分的检测
台式XTU-4C涂镀层测厚仪应用领域：
广泛应用于电镀行业、通讯行业、汽车行业、五金建材、航空航天、水暖卫浴、精密电子、珠宝首饰和古董等多种领域。
以上就是一六整理分享的关于台式XTU-4C涂镀层测厚仪仪器分析优势。公司现有专用高性能X荧光测厚仪、多功能全自动X荧光测厚仪、多用途全性能X荧光光谱仪、真空腔体全能X荧光光谱仪等多个系列几十种型号仪器。想了解更多相关资讯，欢迎持续关注。
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