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二次离子质谱
二次离子质谱(简称:SIMS)分化为静态二次离子质谱(S-SIMS)、动态二次离子质谱(D-SIMS)两种,通过扫描,可以得到化学成像、成分定性鉴定。二次离子质谱技术具有非常高的分辨率以及灵敏度,可对有机物进行元素的面分布,深度分布分析,所以被广泛地运用在生物医学的领域当中。
SIMS是利用具有一定能量的初级离子束轰击固体材料表面,再通过质谱分析检测被初级离子束溅射出的二次离子的质荷比,从而得到样品信息。如今应用在SIMS中最广泛的质谱检测器是飞行时间质谱仪(TOF),TOF-SIMS的分辨率可以达到5-10nm,微区分辨率达到100nm2,深度分辨率达到0.1-1nm,二次离子浓度灵敏度达到ppm级别。
TOF-SIMS以其各种优异的性能和特点被广泛地用于半导体行业,随着半导体硅晶片制程越来越小,SIMS逐渐成为分析半导体器件表面污染缺陷、研究元素掺杂等不可替代的手段。除此之外,SIMS的应用近年来也不断发展到生物医学、材料、化学等领域。
其中在生物医药领域,利用TOF-SIMS技术对生物细胞进行化学成像分析受到越来越多的研究人员关注,例如使用TOF-SIMS研究生物组织或生物薄膜上蛋白质等分子行为、细胞界面特性、药物作用、疾病诊断等。和MALDI-TOF-MS、ESI-MS等质谱相比,TOF-SIMS的灵敏度更高且可以进行二维或三维化学成像。
下图为分别使用SSIMS和DSIMS对冠状动脉支架中的药物进行分析的案例。其中的质谱图就是通过SSIMS得到样品表面化学信息,下方的化学成像则是通过DSIMS层层剥离,得到的不同深度下的药物分布图。
[来源:测试狗]
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