蔡司扫描电镜新玩法 | 轻松实现关联定位、自动成像和量化分析

在使用扫描电镜的过程中，

您是否总是遭遇如下问题：

1. 在不同设备间切换样品时总需耗费大量时间重新定位感兴趣区域

2. 总是为获取大面积高分辨图像而苦恼，需要频繁切换成像参数，调整像散聚焦

3. 得到图像后又在为图像的量化分析而发愁

针对以上的困扰和需求，蔡司对扫描电镜进行了全方位武装，特别推出智能电镜解决方案，解决以上提到的所有问题，最大程度确保您日常检测和分析工作的顺畅与高效。

01 关联定位分析

蔡司Connect模块轻松实现光学显微镜到扫描电镜的桥接，快速实现样品在不同设备间的重新定位，还能统一管理关联设备的数据和信息

✓ 关联定位：通过关联样品台实现样品在不同显微镜设备之间自动关联重定位，大幅缩减操作用时

✓ 数据叠加：自由叠加来自手机，光学显微镜，扫描电镜的信息以及相关能谱信息

✓ 统一管理：管理来自不同关联设备的数据，输出不同信息叠加图像和视频

▲ PCB电路板的关联显微分析（光镜，电镜，能谱信息），左：宏观图像；右：感兴趣位置局部放大

▲芯片关联显微分析视频（光镜，共聚焦，电镜）

02 自动成像

蔡司SmartSEM Touch定制软件，全面兼顾参数设置，成像，自动化拼图，图像浏览，实现智能高效的扫描电镜成像

✓ 向导式操作流程，界面简洁，操作简单

✓ 根据样品智能匹配成像参数，实现自动聚焦

✓ 简单操作即可完成高通量图像拍摄和拼接

▲简洁的SmartSEM Touch操作界面

03 量化分析

蔡司ZEN模块实现从电镜图像获取，图像处理，图像分割，自动测量到报告生成的整个量化分析流程

✓ 一键获取扫描电镜图像，向导式的分析工作流程，毫无经验的新手也可轻松掌握

✓ 基于机器学习的ZEN Intellesis模块轻松实现传统阈值方法难以达成的图像处理需求

✓ 丰富的测量功能，如颗粒统计分析，孔隙率，含量百分比，层厚测量，晶粒度评级等

▲量化分析界面-二值化分割

▲金属焊接位置孔隙大小分析及含量分析

▲满足多种测量需求——高级测量               ▲颗粒分析                              ▲晶粒度评级                  

                      ▲含量百分比                                ▲层厚测量                                  ▲孔隙率分析                        

蔡司智能扫描电镜解决方案满足您的多种需求，点击下方您所属的专业领域了解更多，或关注蔡司显微镜微信公众号（ZEISSMIK）留言咨询您想知道的任何信息。