报告简介:
X射线发射谱(XES)技术主要涉及一种二次光电子过程,通过调制入射 X 射线的能量以及通过高分辨谱仪收集器收集荧光信号,可以获得各种 X 射线发射谱。相比于常规 X射线吸精细结构谱(XAFS),XES谱图具有更高的能量分辨率,和 XAFS 方法相辅相成,从而获取全轨道的电子结构以及原子结构信息。但由于通常依赖于同步辐射X射线光源,大地限制了其在各领域的大范围应用。为了突破这一限制,美国easyXAFS公司研发出了新的台式XES(XAFS300+)。该装置无需同步辐射光源,在常规实验室环境中即可实现XAFS和XES双功能测试。本报告将结合近年来实验室台式XES谱仪的发展技术,及著名研究组的新实验结果,详细阐述台式XES的基本原理、技术发展及在多领域的一些应用案例,后展望其在日常实验室研究中的巨大潜力。
直播入口:
您可以通过扫描下方二维码直接进入直播界面,无需注册。
扫码观看
报告时间:
2021年8月31日 14:00
主讲人:
张科 博士
同步辐射及应用专业博士,毕业于中国科学技术大学同步辐射实验室,上海交通大学化学化工学院博士后。主要研究方向为无机纳米功能材料的同步辐射表征及在能源存储和转换领域的应用。目前,就职于Quantum Design中国子公司,从事表面光谱相关设备的应用开发、技术支持及市场拓展等业务。
技术线上论坛:
https://qd-china.com/zh/n/2004111065734
[来源:QUANTUM量子科学仪器贸易(北京)有限公司]
2024.08.06
太妙了!这台AFM/SEM二合一显微镜,可以看见纳米力学测试动态全过程
2024.08.01
落户国家高速列车技术创新中心!新一代便携式X射线残余应力分析仪助力我国高速列车行业发展
2024.07.30
2024.07.19
2024.07.10
神奇纳米滤膜登上CEJ,便携式原子力显微镜助力材料三维表征!
2024.07.08
版权与免责声明:
① 凡本网注明"来源:仪器信息网"的所有作品,版权均属于仪器信息网,未经本网授权不得转载、摘编或利用其它方式使用。已获本网授权的作品,应在授权范围内使用,并注明"来源:仪器信息网"。违者本网将追究相关法律责任。
② 本网凡注明"来源:xxx(非本网)"的作品,均转载自其它媒体,转载目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点和对其真实性负责,且不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。如其他媒体、网站或个人从本网下载使用,必须保留本网注明的"稿件来源",并自负版权等法律责任。
③ 如涉及作品内容、版权等问题,请在作品发表之日起两周内与本网联系,否则视为默认仪器信息网有权转载。
谢谢您的赞赏,您的鼓励是我前进的动力~
打赏失败了~
评论成功+4积分
评论成功,积分获取达到限制
投票成功~
投票失败了~