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助力标准化进程,第五届表面分析技术应用论坛圆满落幕!

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分享: 2021/06/04 20:51:30
导读: 本次会议以“标准化与表面分析技术”为主题,吸引了4000余人次观看,受到了广泛的关注!会议报告受到了参会网友的强烈反响,并通过在线互动,网友与报告专家进行了充分的学术交流,参会网友纷纷留言表示获益匪浅

2021年6月3日,由国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心、全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分技术委员会、中国分析测试协会高校分析测试分会、北京理化分析测试学会表面分析专业委员会联合仪器信息网共同举办的“第五届表面分析技术应用论坛暨X射线光电子能谱(XPS)国家标准宣贯会”主题网络会议圆满落幕!

本次会议以“标准化与表面分析技术主题,与“蔻享学术共享平台合作实现同步转播,吸引了4000人次观看,受到了广泛的关注!会议报告受到了参会网友的强烈反响,并通过在线互动,网友与报告专家进行了充分的学术交流,参会网友纷纷留言表示获益匪浅,干货满满

本届会议的报告嘉宾阵容空前强大,其中标准宣贯报告人全部来自表面化学分析标委会负责XPS标准研究的委员。会议特别邀请了清华大学李景虹院士、中国计量科学研究院李红梅研究员中科院化学所赵江研究员、国家纳米中心朴玲钰研究员、吉林大学谢腾峰教授、清华大学李远副教授、清华大学姚文清高工、北京大学谢景林教授级高工、化学所刘芬副研究员、石油化工研究院邱丽美高工、化学所赵志娟高工、北京师范大学吴正龙教授级高工等12表面分析领域大2家仪器企业代表进行了报告分享,姚文清高工主持会议。

报告嘉宾

李景虹院士首先作了题为《中国分析测试标准化进展》的报告,宏观的剖析了中国分析测试标准化发展历史现状,指出后疫情下中国分析测试标准化发展未来方向;李红梅所长则是从仪器和检测标准出发,分析了我国仪器分析测试标准化工作,作了题为《仪器分析测试标准化工作进展及发展趋势》的报告;赵江研究员的报告题目为《标准化工作与微束分析标准化》,更加聚焦于微束分析的相关标准,微束分析相关标准的情况进行了解读。随后,朴玲钰研究员、谢腾峰教授、李远副教授也分别带来了精彩的报告。

姚文清高工、谢景林教授级高工、刘芬副研究员、邱丽美高工、赵志娟高工、吴正龙教授级高工分别对XPS仪器方法、深度分析、荷电校正、催化剂定量分析、薄膜材料分析以及数据处理中确定本底、峰强等10国家标准进行了宣

参会网友主要来自大专院校、科研院所企业的科研人员、工程师及学生,包括:清华大学、北京大学、中国科学技术大学、北京科技大学等国内知名高校;中科院高能物理所、中科院化学所、国家电投集团研究院等著名科研院所。会议受到诸多企业的企业高管、实验室负责人、技术工程师及检测分析人员等关注,其中不乏一些国际知名企业,如华为、中兴、Facebook等值得一提的是,国科科仪控股有限公司、中科院创投等投资企业的投资经理也关注了本次会议,表面分析技术的受关注程度可见一斑。

报告日程

(点击报告题目视频回放)

主持人:清华大学 姚文清 高工

报告题目

报告嘉宾

中国分析测试标准化进展

清华大学

李景虹 院士

仪器分析测试标准化工作进展及发展趋势

中国计量科学研究院

李红梅 研究员

微束分析标准化与国际标准制定

中科院化学所

赵江 研究员

XPS分析技术在空间和深度维度探测中的应用

高德英特
鞠焕鑫 应用科学家

高效高值的光催化制氢过程

国家纳米中心

朴玲钰 研究员

光催化体系光生电荷定向转移的表界面调控

吉林大学

谢腾峰 教授

利用表面表征技术解析分子内的电荷输运特性

清华大学

李远 副教授

GB/T 30704-2014 表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南

清华大学

姚文清 高工

1.GB/T 34326-2017 表面化学分析 深度剖析 AES和XPS深度剖析时离子束对准方法及 其束流或束流密度测量方法待定

2.GB/T 32999-2016 表面化学分析 深度剖析 用机械轮廓仪栅网复型法测量溅射速率

北京大学

谢景林 教授级高工

XPS在先进功能材料中的应用

赛默飞世尔
孙文武 应用专家

1.GB/T 25185-2010 表面化学分析 X射线光电子能谱 - 荷电控制和荷电校正方法的报告

2.GB/T 28892-2012表面化学分析 X射线光电子能谱 选择仪器性能参数的表述

化学所

刘芬 副研究员

GB/T 30702-2014表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 实验测定的相对灵敏度因子在均匀材料定量分析中的使用指南

石油化工研究院

邱丽美 高工

1.GB/T 36401-2018 表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果的报告

2.GB/T 25188-2010硅晶片表面超薄氧化硅层厚度的测量 X射线光电子能谱法

化学所

赵志娟 高工

1.GB/Z 32490-2016 表面化学分析 X射线光电子能谱 确定本底的程序

2.GB/T 28893-2012表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 测定峰强度的方法和报告结果所需的信息

北京师范大学

吴正龙 教授级高工



[来源:仪器信息网] 未经授权不得转载

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作者:吴优

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