得来失,聚了散,莫求全
2021年6月3日,由国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心、全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分技术委员会、中国分析测试协会高校分析测试分会、北京理化分析测试学会表面分析专业委员会联合仪器信息网共同举办的“第五届表面分析技术应用论坛暨X射线光电子能谱(XPS)国家标准宣贯会”主题网络会议圆满落幕!
本次会议以“标准化与表面分析技术”为主题,与“蔻享学术共享平台”合作实现同步转播,吸引了4000余人次观看,受到了广泛的关注!会议报告受到了参会网友的强烈反响,并通过在线互动,网友与报告专家进行了充分的学术交流,参会网友纷纷留言表示获益匪浅,干货满满。
本届会议的报告嘉宾阵容空前强大,其中标准宣贯报告人全部来自表面化学分析标委会负责XPS标准研究的委员。会议特别邀请了清华大学李景虹院士、中国计量科学研究院李红梅研究员、中科院化学所赵江研究员、国家纳米中心朴玲钰研究员、吉林大学谢腾峰教授、清华大学李远副教授、清华大学姚文清高工、北京大学谢景林教授级高工、化学所刘芬副研究员、石油化工研究院邱丽美高工、化学所赵志娟高工、北京师范大学吴正龙教授级高工等12位表面分析领域大咖及2家仪器企业代表进行了报告分享,姚文清高工主持了会议。
报告嘉宾
李景虹院士首先作了题为《中国分析测试标准化进展》的报告,宏观的剖析了中国分析测试标准化发展历史和现状,指出后疫情下中国分析测试标准化发展未来方向;李红梅所长则是从仪器和检测标准出发,分析了我国仪器分析测试标准化工作,作了题为《仪器分析测试标准化工作进展及发展趋势》的报告;赵江研究员的报告题目为《标准化工作与微束分析标准化》,更加聚焦于微束分析的相关标准,对微束分析相关标准的情况进行了解读。随后,朴玲钰研究员、谢腾峰教授、李远副教授也分别带来了精彩的报告。
姚文清高工、谢景林教授级高工、刘芬副研究员、邱丽美高工、赵志娟高工、吴正龙教授级高工分别对XPS仪器方法、深度分析、荷电校正、催化剂定量分析、薄膜材料分析以及数据处理中确定本底、峰强等10项国家标准进行了宣贯。
参会网友主要来自大专院校、科研院所、企业的科研人员、工程师及学生,包括:清华大学、北京大学、中国科学技术大学、北京科技大学等国内知名高校;中科院高能物理所、中科院化学所、国家电投集团研究院等著名科研院所。会议受到诸多企业的企业高管、实验室负责人、技术工程师及检测分析人员等关注,其中不乏一些国际知名企业,如华为、中兴、Facebook等。值得一提的是,国科科仪控股有限公司、中科院创投等投资企业的投资经理也关注了本次会议,表面分析技术的受关注程度可见一斑。
报告日程
(点击报告题目视频回放)
主持人:清华大学 姚文清 高工
报告题目 |
报告嘉宾 |
中国分析测试标准化进展 |
清华大学 李景虹 院士 |
仪器分析测试标准化工作进展及发展趋势 |
中国计量科学研究院 李红梅 研究员 |
中科院化学所 赵江 研究员 |
|
高德英特 |
|
国家纳米中心 朴玲钰 研究员 |
|
吉林大学 谢腾峰 教授 |
|
清华大学 李远 副教授 |
|
清华大学 姚文清 高工 |
|
1.GB/T 34326-2017 表面化学分析 深度剖析 AES和XPS深度剖析时离子束对准方法及 其束流或束流密度测量方法待定 |
北京大学 谢景林 教授级高工 |
赛默飞世尔 |
|
化学所 刘芬 副研究员 |
|
GB/T 30702-2014表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 实验测定的相对灵敏度因子在均匀材料定量分析中的使用指南 |
石油化工研究院 邱丽美 高工 |
化学所 赵志娟 高工 |
|
北京师范大学 吴正龙 教授级高工 |
[来源:仪器信息网] 未经授权不得转载
2021.05.20
一轮通知 | 第十一届表面分析技术应用论坛暨表面化学分析国家标准宣贯会
2024.07.17
版权与免责声明:
① 凡本网注明"来源:仪器信息网"的所有作品,版权均属于仪器信息网,未经本网授权不得转载、摘编或利用其它方式使用。已获本网授权的作品,应在授权范围内使用,并注明"来源:仪器信息网"。违者本网将追究相关法律责任。
② 本网凡注明"来源:xxx(非本网)"的作品,均转载自其它媒体,转载目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点和对其真实性负责,且不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。如其他媒体、网站或个人从本网下载使用,必须保留本网注明的"稿件来源",并自负版权等法律责任。
③ 如涉及作品内容、版权等问题,请在作品发表之日起两周内与本网联系,否则视为默认仪器信息网有权转载。
谢谢您的赞赏,您的鼓励是我前进的动力~
打赏失败了~
评论成功+4积分
评论成功,积分获取达到限制
投票成功~
投票失败了~