1700余人参会 “2020年材料表征与检测技术”网络会回放视频上线！

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分享： 2020/12/18 15:20:08

导读：本次研讨会的18个报告中，征得报告人同意视频回放报告17个，整理如下.

2020年12月15-16日，仪器信息网线上举办“2020年材料表征与检测技术”主题网络研讨会，两天的会议汇集9位材料表征技术领域知名专家和9位知名仪器企业资深应用专家，在线详细讲解材料表征检测常用的近20类检测技术及应用。大会吸引1700余位材料人云端报名参会，在线互动答疑近200次。

两天的会议将分设成分分析、表面与界面分析、结构形貌分析、热性能分析等四个专场，以线上报告分享、在线网友答疑互动形式，针对材料科学常用表征及分析检测技术进行探讨。

本次研讨会的18个报告中，征得报告人同意视频回放报告18个，整理如下，以飨读者。（标注绿色报告为可回放报告及回放报告跳转链接）

专场1：成分分析
报告题目	报告人
电子探针的分析特点和国内市场情况介绍	胡晋生(日本电子产品经理)
不同色谱、质谱手段应对成分解析挑战的思路分享 ---善用小工具、实现大效用	侯彦杰(沃特世科技应用工程师)
热脱附在材料散发及异味物质监测中的应用与相关法规介绍	张兵(玛珂思仪器技术支持经理)
X射线荧光光谱仪在镀层样品分析中的应用	佘晓萌(赛默飞世尔科技应用工程师)
X射线荧光光谱在高温合金成分检测中的应用	孙晓飞(国家钢铁材料测试中心高级工程师)
专场2：表面与界面分析
报告题目	报告人
电催化还原反应中的表面吸附调控及其原位拉曼研究	陈建(中山大学研究员)
SPM——表面分析与界面观测	陈强(岛津产品应用专家)
XPS技术及在材料表界面分析中的应用	刘芬(中国科学院化学研究所副研究员)
基于扫描探针技术在表面及界面进行纳米尺度物理性质定量表征	孙万新(布鲁克资深应用科学家)
光电子能谱(XPS)中复杂谱峰的解析	吴正龙(北京师范大学教授级高工)
专场3：结构形貌分析
报告题目	报告人
电子背散射衍射标定方法研究	曾毅（中国科学院上海硅酸盐研究所研究员）
聚焦离子束-电子束双束设备JIB-4700F介绍	席得圣（日本电子应用工程师）
赛默飞K-Alpha光学实时XRD技术及应用介绍	居威材（赛默飞世尔科技应用工程师）
Rietveld结构精修原理与应用	程国峰（中国科学院上海硅酸盐研究所研究员）
专场4：热性能分析
报告题目	报告人
热分析技术在材料研究领域应用中的常见问题分析	丁延伟（中国科学技术大学高级工程师）
于细微处见学问-热分析坩埚的选择和应用	陈成鑫（梅特勒-托利多技术专家）
示差扫描量热法DSC技术进展及其在高分子材料表征中的应用	陈咏萱（南京大学胡文兵教授课题组成员）
薄膜材料的热物性测量	陶冶（中科院上海硅酸盐研究所助理研究员）