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KAMAKIRI -X stage
主要特点：
STS的低配版，可升级STS 。
操作简单，可以调整色彩显示更直观的了解双折射分布。
记录双折射的数值数据，以进行进一步详细分析。
应用领域：
相位差薄膜（TAC/PC/PMMA/COC）
保护薄膜（PET/PEN/PS/PI）
树脂成型
玻璃
技术参数：
项次 |
项目 |
具体参数 |
1 |
输出项目 |
相位差【nm】，轴方向【°】 |
2 |
测量波长 |
543nm（支持客制化） |
3 |
双折射测量范围 |
0-260nm（支持客制化） |
4 |
主轴方位范围 |
0-180° |
5 |
测量重复精度 |
<1nm（西格玛） |
6 |
测量尺寸 |
A4(标准) |
7 |
定制选项 |
可定制大载台 |
创新点：
欧屹科技代理的是其旗下KAMAKIRI品牌的双折射/残余应力测量设备，其高速相机CCD芯片与Photonic Lattice公司的偏光阵列片完美结合，研制在线双折射/残余应力测量仪，世界上仅有KAMAKIRI可以提供，广泛应用于光学薄膜，PVA,PC,COP和TAC等领域。
[来源：仪器信息网] 未经授权不得转载
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