视频号
抖音号
哔哩哔哩号
前沿资讯手机看
分享到微信朋友圈
打开微信，点击底部的“发现”，
使用“扫一扫”即可将网页分享到朋友圈。
日立经典款荧光分光光度计于2019年10月推出全新附件：荧光分布成像系统(EEM View)。它拥有行业首创的技术，同时分析荧光光谱和反射光谱，将样品的光谱信息可视化，同时获得更加细致的光谱信息。
为让客户更好的了解这项新技术， “荧光分布成像系统”巡回讲座将于11月15日正式启动，我们将为大家带来：
新技术讲座将经过山西、河北、北京、天津、南京、杭州、福州等十几个城市。
想让你所在的城市也加入吗？你可以做主！
| |
长按或扫描文末二维码，填写信息，即可报名哦~
除了专业有趣的知识，我们还准备了精美纪念品，立即锁定座位吧！
[来源：日立高新技术公司]
2024.08.02
2024.08.02
2024.05.17
2024.05.10
“我与日立的故事”3•15售后工程师系列访谈--分析售后工程师 杨展鹏
2024.05.10
“我与日立的故事”3•15售后工程师系列访谈--分析仪器售后工程师 郝杰
2024.04.11
品牌合作伙伴
版权与免责声明：
① 凡本网注明"来源：仪器信息网"的所有作品，版权均属于仪器信息网，未经本网授权不得转载、摘编或利用其它方式使用。已获本网授权的作品，应在授权范围内使用，并注明"来源：仪器信息网"。违者本网将追究相关法律责任。
② 本网凡注明"来源：xxx（非本网）"的作品，均转载自其它媒体，转载目的在于传递更多信息，并不代表本网赞同其观点和对其真实性负责，且不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。如其他媒体、网站或个人从本网下载使用，必须保留本网注明的"稿件来源"，并自负版权等法律责任。
③ 如涉及作品内容、版权等问题，请在作品发表之日起两周内与本网联系，否则视为默认仪器信息网有权转载。
谢谢您的赞赏，您的鼓励是我前进的动力~
打赏失败了~
评论成功+4积分
评论成功，积分获取达到限制
收藏成功
取消收藏成功
点赞成功
取消点赞成功
投票成功~
投票失败了~
