赛默飞发布多款电镜新品及解决方案

仪器信息网讯 2019年10月16-18日的下午， “2019年全国电子显微学学术年会”在合肥召开，赛默飞为展示最新产品、技术、解决方案和创新软件，同期举办了一系列与用户深入交流的活动：展位展示，大会报告演讲，分会场报告交流，赛默飞之夜赞助晚宴，连续3天举办半天的新品发布及远程演示活动，展示了最新软件技术和多项新的电镜解决方案，并在会前举办为期2天的SEM/SDB&TEM远程操作应用培训。活动项目琳琅满目，并得到用户的广泛欢迎!

　　赛默飞新品发布会等活动现场

　　活动现场，赛默飞发布了新一代扫描/透射电镜Spectra 300 S/TEM、双束电镜Helios Hydra、ColorSEM等新产品。Spectra 300 S/TEM是一种适用于所有材料科学应用,拥有高分辨率、像差校正的扫描透射电子显微镜。Spectra 300 S/TEM的新平台具有被动和(可选)主动隔振提供更好的机械稳定性和更高成像质量。Spectra 300 S/TEM 可选择配置三种不同能量分辨率的电子源(X-FEG Mono、X-FEG UltiMono 和 X-CFEG)，两种不同几何构造的EDX探测器(Super-X 和 Dual-X)，以及一系列能量过滤器。Spectra 300 S/TEM也采用 Panther STEM 探头系统，该系统包括一个新的数据采集架构和两个新的固态八段环形和盘式 STEM 探头(总共 16 段)，具备测量单个电子的灵敏度。赛默飞在现场展示了电子剂量(electron dose)在12000~96e/A2范围内的iDPC成像。样品损坏和漂移不稳定性曾经是EDS采集失败的主要原因，而Spectra 300 S/TEM灵活的漂移补偿方案可处理复杂的样品;配备时间分辨的EDS和独立的通道读数，Spectra 300 S/TEM的Velox记录所有STEM和EDS信号并将其保存在数据集中，以进行后期校正。

　　新的固态八段环形和盘式 STEM 探头

　　Helios Hydra DualBeam 提供四种不同的离子束作为主光束，十分钟内可以完成在氩、氮、氧和氙之间的切换，允许为为不同样品和使用案例选择提供最佳结果的离子。Helios Hydra可用高通量 Xe + 离子束用于定位、大样品制备，随后使用 Ar + 离子束进行最终低能量抛光，以获得最高质量、超低损伤的样品。Helios Hydra即使在最大电流下也具有出色的光束轮廓，可提供更多的图像细节。赛默飞也介绍了TriBeam技术——Helios PFIB + fs-Laser，一种超快的样品制备技术。飞秒激光比Ga FIB样品切除速度快15000倍，对样品的损伤非常小，可直接进行SEM 或者EBSD成像;具有在同一位置上进行激光切割、FIB/SEM的特点;可处理金属泡沫、复合材料、软聚合物样品;处理样品区间覆盖毫米尺度到微米。

　　Dr. Marc Peeters作大会报告“Thermo fisher scientific electron microscopes-update on our journey of innovation”

　　赛默飞展位

　　ColorSEM™ 技术提供集成的 EDS 直接在简化的扫描电镜用户界面内生成实时彩色图像，更快速地获得材料成分信息，及大地提高用户的工作效率。活动现场还针对Krios G4推出了全新的 Krios 解决方案，新的方案更加易用而且通量更高，可以更快更好地解析更多的结构，获得更小蛋白和生物分子的高分辨率信息。

　　新品发布现场举办用户抽奖活动

　　虽然没有在活动现场展示仪器产品实物，但是赛默飞采取连线的形式，把分布在全球各地DEMO实验室的各产品进行了操作演示，让用户对新产品、新技术有了更多的感受。同时，在活动现场，与用户分享了《冷冻断层三维成像的最新解决方案》、《大容量样品数据采集分析完整解决方案》以及Amira 软件在细胞生物与神经科学的应用。5天的时间，通过培训、报告、演示等丰富多彩的交流，赛默飞与用户进行了全方位广泛而深入的交流。