2019美国电镜年会杰出技术专家奖揭晓

仪器信息网讯 2019美国电镜年会(M&M, Microscopy and Microanalysis)于2019年8月4日至8日在美国俄勒冈州波特兰市召开。本次会议的官方网站上颁布了各奖项的获奖名单，杰出技术专家奖获得者有两位。  

杰出技术专家奖(Outstanding Technologist Awards)授予对促进生物科学(Hildegard H. Crowley奖)和物理科学(Chuck Fiori奖)领域显微技术和显微分析的新技术发展做出重大贡献的技术专家。

2019杰出技术专家-Hildegard H. Crowley奖

Matthew S. Joens

华盛顿大学医学院

Matthew S. Joens是大学本科培训的分析化学家，加州大学圣地亚哥分校与低温电子显微镜创始人之一，拥有超过10年的电子显微学经验。他曾在Timothy Baker博士和美国国立卫生研究院资助的国家显微镜成像研究中心Mark Ellisman博士领导的实验室实习，之后转到Salk生物研究所，在那里与James Fitzpatrick博士一起建立了威特高级生物光子学中心的电子显微镜部门。之后被Fitzpatrick博士招募，协助建立了圣路易斯华盛顿大学医学院细胞成像中心。他具有冷冻样品制备、免疫标记、3D电子显微镜和选择性染色化学等背景，研究兴趣包括样品制备和成像技术、喷光、X射线、离子和电子显微镜等。

2019杰出技术专家-Chuck Fiori奖

Dmitri Zakharov

布鲁克海文国家实验室

Dmitri Zakharov于1995年获得莫斯科国立工程物理研究所固态物理理论与实验物理系固态物理专业硕士学位，于2001年获得俄罗斯科学院晶体学研究所固体物理专业博士学位，并在马克斯普朗克微结构物理研究所和劳伦斯伯克利国家实验室完成博士后培训。在普渡大学伯克市纳米技术中心担任助理科学家6年后，Zakharov于2012年加入布鲁克海文国家实验室功能纳米材料中心并担任助理科学家职位。

Dmitri Zakharov研究兴趣包括环境扫描/透射电子显微镜(ETEM)技术、自动低剂量图像采集电子束敏感材料、用于实时图像流处理以提取定量信息的机器学习算法和大数据分析、利用ETEM和国家同步加速器光源II作为两种互补技术的操作实验装置、碳纳米管成核，生长，终止和手性控制、2D和III族氮化物材料和器件等。他发表超过150种期刊和会议出版物，已被引用超3,200次(h指数33)，并在国内外举办了30多场邀请演讲。Dmitri Zakharov曾于2000年获得Mikhail Teplov奖学金，2014年获得布鲁克海文国家实验室Spotlight奖。他还曾在普渡大学材料工程学院担任过研究生院工作人员。

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