滨松于ASMS会议中发布质谱用光电器件最新动向

美国质谱学会（American Society for Mass Spectrometry,ASMS）成立于1969年，其年会已是目前世界上最重要的质谱会议之一。第67届大会（ASMS2019）于当地时间2019年6月2-6日在美国佐治亚州亚特兰大召开。滨松质谱用光电器件的最新动向在本次会议中全面呈现（滨松展位：110）。

滨松拥有65年光电探测器的研制经验，享誉世界，而在质谱用探测器技术的耕耘也已有40年的历史，可为质谱提供离子化光源、电子倍增器（EM）、微通道板（MCP）等产品。而在2018年，则集中发布了一系列用于质谱探测的全新产品，包括可在低真空度下高效工作的栅网阳极结构第三代MCP（GEN3 MCP）；高速、高增益、宽动态范围的MCP+AD（MCP复合雪崩二极管结构）；无铅、宽动态范围的通道式电子倍增器（CEM）；用于MALDI-TOF-MS，可大幅缩短其前期处理时间的辅助离子化基板DIUTHAME。

发布后的一年中，新产品也通过大量的实际应用得到了打磨，整体更加趋于成熟，在本次ASMS大会中再次得以呈现。其中，在质谱成像分析领域，辅助离子化基板DIUTHAME获得了丰富的新应用实例，并进行了技术升级（Blotting技术），会中亦发布了多张海报对此进行了展现。此外，滨松也首次披露了新品EM+AD的信息，为ICP-MS应用开发的Dual Mode EM加上AD，实现了长寿命的性能，此外计数线性度也得到了明显的改善。

ASMS会议期间海报发布安排