仪思奇科技携多款新产品亮相IPB2018

第十六届中国国际粉体加工/散料输送展览会（IPB2018）作为粉体行业的重要的年度盛会于2018年10月17日在上海世博展览馆盛大开幕。仪思奇科技携多款新产品亮相此次展会。此次参展的主要产品主要有最新一代高分辨率图像法粒度粒形分析仪IPAC2；图像法颗粒跟踪zeta电位分析仪ZetaCompact^®；固体表面电位仪ZetaCAD^®和超声法粒度和zeta电位分析仪。

在此次展会上，仪思奇科技首次展出了分辨率可达到0.17微米/像素的图像法粒度粒形分析仪IPAC2。IPAC2图像法粒度和粒形分析仪属于湿法动态分析仪器，其分析范围粒度范围：0.3~1000μm，具有1200万像素CMOS成像系统，可配置自动进样系统。IPAC2可以确定蛋白质药物中污染物来源及聚集体个数,符合药典要求；可对蛋白质中气泡、硅油、异物等进行分类和数量统计，并可用于抛光液中的颗粒计数。

OCCHIO公司独有的ghost技术，可以对透明颗粒进行准确成像；强大的软件系统，使得IPAC2具有跟踪和精确计数功能。IPAC2是解决蛋白质、乳液等样品粒度粒形分析的利器。

 此次展会上同时展出了图像法zeta电位仪zetaCompact^®和固体表面zeta电位仪ZetaCAD^®。

图像法zeta电位分析是用于光散射电泳法和电声法zeta电位分析校准的基准仪器，可用于解决测量从20nm到50μm颗粒的电泳迁移率所遇到的所有问题，并计算胶体悬浮液的zeta电位。众所周知，密度高或粒径大的颗粒会沉积在测量室底部。图像法zeta电位仪zetaCompact^® 采取具有角度寻径分辨率的高精度图像分析方案，在垂直平面内测量悬浊液中颗粒的电泳迁移率分布，准确计算zeta值。并且能给出每个颗粒的zeta值，给出真正的zeta电位分布图（如下图），特别适合于乳液、纤维、混合材料、矿浆等样品的测定和分离条件确定。

固体表面电位分析仪ZetaCAD^®是基于流动电势和流动电流测量法，从而研究宏观固体表面 Zeta电位。ZetaCAD^®适用于50μm以上的大颗粒、纤维和膜类等平坦的表面，或在一个压力梯度下电解质可以透过的曲面膜或中空纤维样品，包括聚合物、纺织、陶瓷、玻璃等，对不同形状和尺寸的固体及粉末材料均适用。固体表面电位分析仪研究材料的表面电荷，了解材料表面上的电荷状况，帮助科研人员在化学与材料科学领域内改善和调整表面特性。

在IPB同期举行的2018第三届上海国际医药粉体制备技术交流会，邀请了国内药用粉体颗粒领域的专家开展高峰论坛，仪思奇科技总经理杨正红先生应邀做《静态图像法粒度和形貌分析技术在药品质量控制中的应用》主题报告。通过此次论坛，仪器厂商交流学习，广大用户互助探讨，进一步加深了对药用粉体颗粒领域颗粒表征技术的理解。

仪思奇科技一直秉承创新仪器科技，支撑材料研究的理念；推广最好的仪器，提供最优质的服务为宗旨。