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我司在上海某高校成功安装基于Janis 探针台和Keithley 4200半导体特性仪的测试系统。

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分享: 2017/01/18 11:50:39

    我司于20171月在上海某高校成功安装基于Janis 探针台和Keithley 4200半导体特性仪的测试系统。该探针台配置四个三同轴探针臂和两个光纤探针臂,漏电流优于50fA。该探针台变温范围大(8K-675K我司提供Keithley 4200半导体特性仪,并提供集成变温IVCV和输运和转移特性等测试软件

 

 

          变温测量IVVI曲线                     变温场效应管(横坐标Vgs,纵坐标Ids

                                                            不同曲线代表不同的Vds和温度)

 

 

 

              变温场效应管(横坐标Vds,纵坐标Ids,           变温CV测试(横坐标偏压,纵坐

                     不同曲线代表不同的Vgs和温度)                  标电容,不同曲线代表不同温度)     

 

         

[来源:北京飞斯科科技有限公司]

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作者:匿名

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