飞纳台式扫描电镜赞助并出席中国颗粒学会第九届学术年会

飞纳台式扫描电镜不仅有用杰出的硬件和精巧的设计，采用高亮度、强信号、寿命为 1500h 的 CeB6 灯丝，集成彩色光学显微镜用于彩色导航，配合原装全自动马达样品台使用，点击哪里，看到哪里，设计紧凑，完全防震；更有强大的软件拓展功能，飞纳电镜颗粒统计分析测量系统，飞纳电镜纤维统计分析测量系统，飞纳电镜孔径统计分析测量系统，飞纳电镜 3D 粗糙度重建，高倍超大视野全景拼图，远程联网检测等。为交流国内外颗粒学研究与技术的最新进展，每两年一届的“中国颗粒学会学术年会暨海峡两岸颗粒技术研讨会”于 2016 年 8 月 12－14 日（8 月 12 日报到）在四川省成都市举办，会期 2 天。本届会议由中国颗粒学会主办，中国颗粒学会超微颗粒专委会协办。飞纳台式扫描电镜赞助并出席中国颗粒学会第九届学术年会。

飞纳台式扫描电镜颗粒统计分析测量系统自动识别统计颗粒

客户现场参观试用飞纳台式扫描电镜

飞纳台式扫描电镜放大倍数 13 万倍，分辨率突破 10nm，使用的 CeB6  灯丝可以显著提升扫描电镜的成像质量，优异的硬件为飞纳电镜的软件开发打下了坚实的基础。飞纳电镜颗粒测量系统（Phenom ParticleMetric）是基于飞纳台式扫描电镜的颗粒分析系统，用于实现颗粒可视化分析，由飞纳电镜的制造商荷兰 Phenom-World 公司历经三年研发，于 2013 年 11 月 1 日在荷兰发布，目前仍不断更新升级，飞纳电镜对所用用户所使用的软件升级都是免费的。

飞纳电镜颗粒系统适用的领域有化妆品，食品，化工，制药，陶瓷等行业；颗粒状状添加剂；环境颗粒；过滤、筛网等。可对 100nm ~ 0.1mm 尺寸范围内的颗粒进行分析，颗粒探测速度高达 1000 个/分钟，测量颗粒的大小，形状，数量等属性。给出颗粒众多的参数值，例如面积，当量直径，外接圆直径，比表面积，周长，宽高比，表面积，充实度，伸长率，灰度等级，长轴长度和短轴长度，凸壳体，重心，像素点数，凸状物。并根据实际需要生散点统计图和柱状统计图。

中国颗粒学会第九届学术年会代表证