岂止于图谱——TA仪器测试技术分享会

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分享： 2015/04/08 09:44:42

日常的测试工作中，您是不是常常烦恼无法做出漂亮的基线？有时又对如何分辨及解读图谱一筹莫展？错误的数据和虚假的图谱对您测试会产生何种危害？TA仪器，秉承一贯的为您提供最真实最可靠测试数据的原则，将会为您一一揭晓这些问题的答案。
来，和TA一起发现隐藏在数据和图谱里的真相吧！在此次讲座中，我们将带来如下大家关注的热点问题：
?如何正确又巧妙的安排热分析测试
?如何准确的分析及解读热分析数据
?仪器精度所带来的图谱差异
?新技术对传统材料分析产生的影响

演讲专家：

许炎山先生 TA仪器资深应用技术经理
曾先后任职于台湾台塑集团的南亚塑料公司第六轻油裂解计划ABS厂研发专员,与台湾化学纤维公司的ABS建厂专员,累积丰富的流变学与热分析技术在产业界与学术界之相关应用经验,并且也拥有超群的仪器实际操作能力。

马倩博士 TA仪器热分析技术专家
美国Tufts大学凝聚态物理博士，毕业于美国顶尖热分析实验室。有着多年高分子热分析表征以及X射线散射理论和实验研究经历。

李润明博士 TA仪器流变技术专家
上海交通大学材料学博士。主要研究方向是聚合物流变学，在材料表征分析和测试领域具有丰富的经验。是少数能结合流变理论、实际操作和产业经验流变专家。

日程安排

时间：2015年4月28日（周二）9:00-16:15
地址：上海市徐汇区虹桥路100号上海西藏大厦万怡酒店3楼会议室1+2

日程安排
09:00-09:30 TA公司介绍及产品概述
09:30-10:30 TA热分析技术在材料领域的最新进展
10:30-10:45 茶歇
10:45-12:00 热分析数据差异解读及常见问题
12:00-13:30 工作午餐
13:30-14:30 材料研发涉及的黏弹测试技术
14:30-14:45 茶歇
14:45-15:45 如何测定材料的热传导性能
15:45-16:15 现场交流及答疑