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北京理化分析测试技术学会表面分析专业委员会成立及交流会定于2014年10月31日上午9：00在清华大学理科楼D203会议室召开。该专业委员会的成立拟为北京地区表面分析领域的学术交流、技术培训、标准宣贯等搭建良好的平台。敬请您参加会议并提出宝贵建议。
日程安排
9:00 领导致辞
9:10 朱永法理事长报告“委员会成立背景范围目标及拟开展的活动”
9:40 吴正龙报告“XPS分析中样品损伤问题”
10:10 姚文清报告“表面分析在材料中的应用”
10:40 刘芬报告“XPS在纳米薄膜厚度测量中的应用”
11:10 照相
11:50 午餐
秘书处：
联系人:于靖琦 王 晨
电话：010-68731259 邮箱：13521470325@126.com
参会回执
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北京理化分析测试技术学会
表面分析专业委员会
2014.10.24
[来源：北京理化分析测试技术学会]
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