2013全国表面分析科学会议上的仪器厂商

　　仪器信息网讯 2013 年8 月20，“2013 全国表面分析科学与技术应用学术会议暨表面分析国家标准宣贯及X 射线光电子能谱(XPS)高端研修班”在北京举行。100余名从事表面分析技术研究与应用的研究人员参加了此次会议。

　　本次会议由高校分析测试中心研究会、全国微束分析标准化技术委员会表面分析分技术委员会主办，国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心、北京师范大学分析测试中心和北京大学分析测试中心共同承办。

　　表面分析仪器的主要供应商均参加了此次会议。赛黙飞世尔科技(中国)有限公司、岛津企业管理(中国)有限公司、高德英特(北京)科技有限公司(代理日本ULVAC-PHI产品)、北京艾飞拓科技有限公司(代理德国ION TOF公司产品)、北京精微高博科学技术有限公司等分别在会议中就本公司的最新产品和技术作了主题报告。

报告人：赛黙飞世尔科技(中国)有限公司Richard G.White

报告题目：Recent advances in XPS instrumentation from Thermo Fisher Scientific

报告人：岛津企业管理(中国)有限公司龚沿东

报告题目：高灵敏XPS—Axis Ultra DLD 检测器在采谱和成像方面的应用

报告人：高德英特(北京)科技有限公司陈文徵

报告题目：PHI 公司在表面分析技术中的新进展

报告人：北京艾飞拓科技有限公司高聚宁

报告题目：飞行时间二次离子质谱最新进展和应用

报告人：北京精微高博科学技术有限公司钟家湘

报告题目：多孔粉体材料表面特性的表证与测试

　　另外，此次会议中赛默飞还特别设置了展位，并赞助了本次大会的欢迎晚宴。

赛默飞展位

赛默飞化学分析部运营总监兼表面分析部门经理胡翔宇在晚宴中致辞

欢迎晚宴现场

　　有关本次会议的主题报告及最新产品和技术进展，敬请关注仪器信息网后续报道。