布鲁克推出电镜用WDS及微焦斑X射线源新品

　　2013年8月6日，在2013年显微镜&显微分析会议上，布鲁克宣布推出两款电镜附件：新型XSense™ 平行光束波长色散X射线光谱仪(WDS)，XTrace™微焦斑X射线源。

XSense™ WDS

　　XSense™ WDS可用于扫描电子显微镜(SEM)的元素分析。XSense™ WDS专为介于100和3600 eV的低能量分析而设计，其能量分辨率可低至4eV，可分辨紧邻的X射线，以及微量元素检测。

XTrace™微焦斑X射线源

　　XTrace™微焦斑X射线源可用于扫描电镜系统，并结合布鲁克的能谱检测器，实现微束X射线荧光分析。同电子束激发X射线光谱法进行元素分析相比，微束X射线荧光光谱仪的检测下限要低20-50倍，尤其是对于中高能量范围的光谱分析，增加了样品中痕量元素分析的能力。

　　XSense WDS以及Xtrace微焦斑X射线源均可通过ESPRIT 2.0软件进行操作。该软件在同一个用户操作界面集合了EDS, WDS, EBSD和微束XRF分析。ESPRIT2.0不仅能够直观的引导四个操作方法，而且还提供了四种分析数据间结合分析的可能性，以获得更高的定量分析精度。

　　布鲁克纳米分析部门总裁Thomas Schülein表示：“随着两样新产品的问世，我们现在可以为用户提供前所未有的选择，大大提高他们的扫描电镜的分析能力。作为我们用于微米级及纳米级分析的QUANTAX系统的组成部分，这两个新产品通过全光谱能量范围的分析，用来提升扫描电镜的分析特性和灵敏度度。 XSense WDS适用于低能量区，及轻元素的光谱分析，Xtrace特别适合用于中高能量区域的分析。我们非常自豪布鲁克现在是唯一可以同时提供EDS, WDS, EBSD, Micro-XRF and Micro-CT等5种技术的生产商。由于这些附件全部整合在我们的新型ESPRIT 2.0软件集，研究人员现在可以通过软件对这些方法的分析数据进行整合。现在我们的QUANTAX 系统已成为利用电镜进行综合材料表征的多功能分析工具包。”（编译：秦丽娟）