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相对其他探测器，Rigaku新的D/teX Ultra 250 silicon strip探测器减少了近50%的数据采集时间。通过增加孔径有效面积提高了整体的计数率、探测器的覆盖角，达到省时的效果。通过低能歧视和次要单色仪的独一无二结合，该探测器获得了非常好的能量分辨率、x射线荧光 (XRF)抑制。
Rigaku公司推出的D/teX Ultra 250 1D检测器是公司持续努力减少x射线衍射(XRD)数据采集时间的一个成果，大幅提高了仪器的通量等性能。新silicon strip探测器可以用于Rigaku顶级的，以创新指导软件、自动校准、CBO光学闻名的Smartlab衍射系统。D/teX Ultra 250相对于之前的探测器有很多改进，包括一个较小的像素尺寸 (0.075 mm versus 0.10 mm)提高了分辨率，增加长度提高了计数率和覆盖角，一个独特的XRF抑制配置使得能量分辨率更加优秀。
编译：刘丰秋
[来源：仪器信息网译] 未经授权不得转载
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