2013年布鲁克原子力显微镜测量技术系列讲座之四、之五

    现代科学技术中，观察、测量、分析以及操纵纳米大小的物体是一个热门的研究领域。原子力显微镜的诞生为研究者们提供了分析和操作纳米世界的“眼”和“手”。因此，自诞生以来AFM已经被广泛用于科研和工业界各领域，涵盖了聚合物材料表征，集成光路测量，材料力学性能表征，细胞表面形态观察，生物大分子的结构及性质，生物传感器，分子自组装结构等领域的监测等各类科研和生产工作。

    【讲座安排】
    1、第四讲-利用AFM-Raman集成成像系统进行材料性能表征|
       时间：2013年6月25日  10:00
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    2、第五讲-SPM在材料电学性能表征方面的应用进展|
       时间：2013年7月9日  10:00
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    【注意事项】
    1、报名条件：只要您是仪器网注册用户均可报名参加。
    2、参加及审核人数限制：限制报名人数为120人，审核人数100人。
    3、参与互动：每次会议从提问的用户中随机抽取出一名幸运之星，奖励一个价值150元的耳机。
    4、环境配置：只要您有电脑、外加一个耳麦就能参加。建议使用IE浏览器进入会场。
    5、提问时间：现在就可以在此帖提问啦 
    6、会议进入：会议室将在会议正式开始前30分钟打开，审核通过的用户可以进入会议室
    7、特别说明：报名并通过审核将会收到1 封电子邮件通知函(您已注册培训课程)，请注意查收，并按提示进入会议室!为了使您的报名申请顺利通过，请填写完整而正确的信息哦~

   【往期回顾】
    1、原子力显微镜简介及成像技巧——2013年布鲁克原子力显微镜测量技术系列讲座第一讲   精彩回放

    2、原子力显微镜在生物学研究中的应用——2013年布鲁克原子力显微镜测量技术系列讲座第二讲   精彩回放

    3、原子力显微镜在高分辨定量测量材料特性方面的应用进展——2013年布鲁克原子力显微镜测量技术系列讲座第三讲   精彩回放