奥林巴斯公司最新发布LEXT OLS4500 纳米检测显微镜

　　奥林巴斯公司非常荣幸地宣布，将于6月3日在日本、中国、韩国和泰国发布LEXT OLS4500 纳米检测显微镜。LEXT OLS4500是一种工业用新型显微镜，能够进行无缝放大观察，实现从几百微米到几纳米的测量。

　　LEXT OLS4500 纳米检测显微镜将激光显微镜与扫描探针显微镜*3(SPM)组合在同一台机器上，从而允许更大范围放大倍率下的观察与测量(从50倍到100万倍)。奥林巴斯公司与Shimadzu公司联合开发了LEXT OLS4500。

　　LEXT OLS4500集成了激光显微镜功能，对于复杂表面非接触性3D测量，具有行业领先的可重复性*1和准确性*2保证，新的功能比如一键单击即可自动获取3D图像，图像获取速度大约是现有奥林巴斯各种型号产品的两倍。

　　● 主要特性

　　LEXT OLS4500 纳米检测显微镜功能上的新特性：

　　单一扫描区域里的高分辨率观察和高精确性测量

　　设计便于新手操作，包括自动3D图像获取功能

　　3D图像获取速度大约是现有奥林巴斯各型产品的两倍

　　组合了光学显微镜、激光显微镜和探针显微镜功能的一体机

　　● 发布背景

　　近年来，随着便携式数据装置和工业设备变得越来越小，性能越来越高，而使用人员同时还要求这些产品中使用的传感器和其它电子组件更加小型化，性能更强。由于这些组件也要求严格的质量控制，因此也需要能够测量表面特性，比如梯度和粗糙度的高度可靠的3D形状测量器械。同时，需要细微表面特性量化控制的行业范围扩展迅速，包括自动和特色材料部。相应地，样本的特性也更多样化，包括具有复杂形状，或粘连特性的样本，尤其对于研发中使用，以及生产过程中使用的器械，对其的要求日益增加。奥林巴斯3D测量激光显微镜LEXT系列可以观察并测量尺寸从几百微米到亚微米的样品，卓越的3D表面特性的能力使其在工业和专业研究领域得到广泛使用。目前，奥林巴斯公司已添加了新的型号，以满足在更大范围里以更高的精确性进行测量和观察的要求。

　　● 主要特性

　　LEXT OLS4500纳米检测显微镜的特性

　　1. 高分辨率观察和更大范围的高准确性测量

　　由于大范围上的测量通常要使用低放大倍率，因此此类图像的清晰范围有个限制。为解决这个问题，新的显微镜可以实施高分辨率观察，并使用拼接功能在大范围上实施高精确性测量，即将625幅不同放大倍率的图像组合在一起，从而可以用高分辨率来识别小的区域。而过去的大多数激光显微镜一直用于研发，及其相关领域，以观察很小的样本，以高精确性来观察很大的范围的能力也在工业中开启了显微镜作为质量控制工具的先河。

　　2. 设计易于新手操作，包括自动3D图像获取功能

　　传统上3D成像需要复杂的设定(亮度和上下限)。采用新的智能扫描模式后，用户一键单击即可获取3D图像。该功能设计允许即使是初次使用者，获取的结果也等同于经验丰富的操作者。

　　3. 3D图像获取的速度大约是现有奥林巴斯各种型号的两倍

　　新型的Ultra-Fast型号获取3D图像的速度大约是现有Fast型号的两倍，比Fine型号快九倍。加速了样品观察和测量，大幅提高了效率。

　　4. 单一器械组合了光学显微镜、激光显微镜和探针显微镜*5功能

　　SPM技术与LEXT OLS4100功能的组合意味着可以用很大范围的放大倍率来进行观察和测量，从几十倍到100万倍。也就是说可以将该显微镜用于3D测量，从微米范围里相对比较大的样本到纳米尺寸的样本。此外，使用光学或激光显微镜功能，该显微镜可以快速而准确地切换到超高放大倍率SPM观察(大约100万倍)，而不会丢失要观察的位置的踪迹。比如，在研究所里对新材料实施形状测量时，可以实施各种类型的观察，而不用变换样本，并且能够以最适合的放大倍率进行测量。

　　*1： 反复的测量值之间的偏差程度。计量学里的技术词汇。

　　*2： 测量值与其真实值的差距。计量学里的技术词汇。

　　*3： 通过探针机械式地在样本表面移动的纳米级别的观察和测量技术。

　　*4： 1纳米是十亿分之一米。

　　*5： 扫描探针显微镜将探针靠近样本表面，实现纳米级的观察和测量。