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岛津检测产品诊断研讨会@深圳

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分享: 2013/02/26 16:19:57

  你的产品需要缺陷分析;需要内部观察...... 全部不用愁,岛津检测帮你解烦忧。

  岛津检测现举办一场产品诊断研讨会,综合介绍多种不良品分析和无损检测方法以及各种检测方法在各个领域中的应用,还安排到实验室参观X透视和工业用CT两大高端设备,机会难逢,不容错过。

  研讨会具体安排

  会议时间:2013年3月22日(周五)13:00—17:00

  会议地点:深圳马哥孛罗好日子酒店 七楼温哥华厅(深圳市福田中心区福华一路)

  会议语言:中文

  会议费用:免费

  报告截止时间:2013年3月18日

  请各位有意欲参观的客户填写邀请函回执并以传真或邮件的形式回复我们,期待您的到来,谢谢支持!

  产品诊断研讨会邀请函.pdf

  产品诊断研讨会邀请函-回执.doc

[来源:岛津检测]

标签: 岛津检测检测
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作者:杨改霞

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