全新展望卡尔蔡司颗粒度分析

2012年10月23日 德国斯图加特，耶拿
在今年德国斯图加特举办的清洁贸易博览会上，卡尔蔡司显微镜部带来了两个用于颗粒分析的新选择。通过Axio Zoom.V16系统，用户可以快速高效地检测部件的清洁度，同时关联显微镜还可对单个颗粒进行化学元素和成分分析。
对于汽车与电子行业和机械工程行业中质量控制领域的用户，都可以运用这两个方法去检查清洁度和确认在工艺过程中扮演重要角色的颗粒。该颗粒度分析支持ISO 16232和VDA 19 标准。
Axio Zoom.V16
Axio Zoom.V16是一款变倍比可达16、孔径光阑交大的连续变倍体显微镜。它可以拍摄大视场范围的图像，并具有较高的分辨率。通过全新的电动控制器可以改变偏光衬度，颗粒就可以完全自动地分为反射型和非反射型。采用AxioVision的颗粒度分析软件模块可以获得面积百分比，大小分布以及颗粒类型的信息。Axio Zoom.V16对5µm以上的颗粒测量有很好的表现并能快速地提供所需信息。“位于斯图加特主要应用于制造工程及全自动IPA的Fraunhofer研究所的首批用户都被分析区域之大及分析时间之短震撼了。”Jati Kastanja卡尔蔡司颗粒分析产品经理热情的介绍到。

关联显微镜颗粒分析
关联显微镜是指可以将光学显微镜和电子显微镜相结合的一个工作体系。光学显微镜可以观察得到面积百分比，大小分布和颗粒类型的结果。另外，X射线能谱分析法(EDS)可以确认化学组成元素，这就构成了光镜下所选颗粒的成分分类基础。三种不同的用户模式确保对未决定任务的调整，以及确认分析数据细节的等级.ZEISS电子显微镜EVO和SIGMA以及光学显微镜Axio Imager都支持关联显微镜颗粒度分析。关联显微镜的颗粒分析过程是全自动的，并且比单个显微镜的分析要快10倍多。测量结束，用户还可以得到一份关于光学显微镜和电子显微镜分析结果的综合报告。