岛津XPS喜获中科院两台大单

    中国科学院山西煤炭化学研究所、中国科学院化学研究所分别在今年7月、11月与岛津签订了高端配置的X射线光电子能谱仪(XPS)的订单。两台仪器分别用于催化剂原位研究及固体表面有机/金属沉积薄膜分析。

    针对科学院的高水平分析需求，配置了Ar/C₂₄H₁₂双模式离子枪，该离子枪的C₂₄H₁₂离子源可实现不改变有机材料化学状态的深度剖析，避免以往Ar离子源刻蚀导致有机材料化学状态改变的弊端。特别值得一提的是，国内首家采用无损深度剖析重构软件，能够在不使用离子源对样品进行刻蚀的情况下分析样品的表面深度信息结构，目前该软件的用户已经在国际知名杂志上发表了数篇出色研究成果。

    岛津/KRATOS 高性能成像X射线光电子能谱仪 AXIS-ULTRA ^DLD型，采用合理设计的双层能量分析器，既可获得高能量分辨和高灵敏度的XPS谱，也可以在数秒至数十秒的时间内得到空间分辨优于3μm的高分辨元素化学状态像，是真正的成像XPS；结合先进的新一代二维阵列延迟线检测器（Delay Line Detector），可以对样品进行超快速分析，并实现快拍采谱（Snap Shot）和从图得谱（Spectra from Images）等功能。使用特殊设计的虚拟探针技术，若在图像上以鼠标点击指定分析位置，则无需移动样品，便可进行最小至15μm微小区域的多点谱分析。正因为岛津XPS仪器本身技术的先进性，中科院化学所采用单一来源采购的方式与岛津公司签订了采购合同。     相信代表中国科研前沿的中国科学院研究所相继引进岛津XPS，必将推动XPS在相关领域的研发水平，为中国科技实力提升贡献更多力量。

什么是XPS?
X射线光电子能谱仪（X-ray Photoelectron Spectroscopy，简称XPS）是广泛应用于材料科学领域的高技术分析仪器，主要用于固体材料的表面（2～3nm深度）元素成分和价态的定性和定量分析，与成像功能和离子溅射刻蚀相结合，也可以用于固体表面元素成分及价态的二维面分析和深度剖析，在纳米材料、高分子材料、材料的腐蚀与防护、各类功能薄膜的机理研究、催化剂研究与失效等方面具有不可替代的作用。