阿美特克微区扫描电化学技术讲座在京举办

（摘自仪器信息网 2011-9-23新闻）

 仪器信息网讯 2011年9月22日上午9:00，美国阿美特克(Ametek)公司微区扫描电化学技术讲座在北京科技大学腐蚀中心成功举办，80余位从事扫描电化学研究领域的专家学者出席了会议；仪器信息网作为特邀媒体亦参加了会议。

会议现场

美国阿美特克公司科学仪器部中国区经理杨琦女士主持会议

近年来，微区扫描电化学技术发展迅猛，在腐蚀和电沉积科学中的表面反映过程基础研究、酶稳定性研究、生物大分子的电化学反应特性、化学传感器、点蚀孔蚀、涂层完整性和均匀性、涂层下或逾金属界面间的局部腐蚀、缓蚀剂性能等相关领域得到广泛应用，倍受科技工作者的关注。因此，阿美特克公司特别邀请了美国阿美特克公司普林斯顿应用研究(PAR)部门Rob Sides博士、厦门大学林昌健教授作相关的技术讲座。 

美国阿美特克公司普林斯顿应用研究部门Rob Sides博士

报告题目：Applications of Different Localized, Scanning Electrochemical Measurements

　　Rob Sides博士在报告中简要介绍了微区电化学测试系统的各项技术设备原理及进展，并对阿美特克公司扫描振动探针/扫描振动电极(SVP/SVET)、局部电化学阻抗 (LEIS)、扫描电化学显微镜(SECM)、扫描开尔文探针(SKP)等微区电化学测试设备的技术特点和重要参数；同时，Rob Sides博士用大量数据和图片说明了上述微区电化学仪器在金属材料腐蚀等多个领域拥有着广泛的应用。据了解，Rob Sides博士长期从事微区扫描技术应用和开发，迄今已在全球提供了超过30套微区电化学仪器的应用方案设计与技术支持。

厦门大学林昌健教授

报告题目：扫描电化学微探针技术及在局部腐蚀研究中的应用

　　林昌健教授简要概述了当前国内外具有空间分辨能力的扫描微探针技术及其在腐蚀研究中的应用，包括扫描微电极技术(SMET)、SECM、SKP等;同时，林昌健教授在报告中还重点介绍了其近年来先后建立的具有微米空间分辨度的电化学微探针技术，并利用各种扫描探针技术研究金属/溶液界面电化学不均一性及其局部腐蚀过程。该研究表明，空间分辨电化学方法的发展及应用，加深了人们对金属表面和金属/溶液界面电化学不均一性，特别是金属局部腐蚀发生、发展及过程机理的认识。

Rob Sides博士对M370扫描电化学工作站作现场演示

用户参观阿美特克公司M370扫描电化学工作站

讲座结束后，阿美特克公司特别组织了参会人员参观了北京科技大学腐蚀与防护中心的阿美特克公司M370扫描电化学工作站(SVP，SKP，SECM，LEIS技术四合一)，并由Rob Sides博士对设备作了现场演示，使到场用户获益匪浅。