岛津电子探针用户高级应用培训——杭州站

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分享： 2011/03/28 14:09:16

岛津电子探针用户高级应用培训——杭州站

电子探针作为微区形貌观察与元素定性定量分析完美结合的仪器，随着国内日益提高的分析测试要求，市场需求量也逐步扩大，从上世纪八九十年代的年均1-2台，到近几年的年均十余台。

为与中国用户共同提高应用水平，岛津公司全球应用开发中心EPMA高级应用工程师—加藤治彦先生于3月15-18日在中国石油杭州地质研究院进行了钢铁、地质行业复杂样品的应用培训。在为期4天的培训中，针对钢铁、地质行业复杂样品从理论知识到上机操作进行了系统学习。在最后阶段的客户实际测试中，都取得了满意的分析结果，培训效果得到客户的积极肯定。

据悉，本次培训是岛津电子探针高级应用培训的第一站，今后将应客户的需求，陆续在用户现场进行专业化、能够保证每个人培训效果的小规模培训班。

电子探针是什么仪器？

电子探针利用高能（典型的加速电压为1～40kV）的聚焦电子束（典型的电子束直径为1mm或更细）照射试样的表面，从而在微米级的区域内激发出大量携带着各种信息的量子信号，如用于定性、定量分析的特征X射线，用于形貌观察的二次电子，用于利用有效原子序数进行成分分析和形貌分析的背散射电子，用于价带电子结构研究的阴极发光等等。结合电子束扫描和／或样品台扫描，电子探针还可以对样品的表面进行数十微米至10厘米的区域的扫描分析，可以提供此区域内的元素成分定性、定量分析及其分布的信息。

目前最先进的电子探针的二次电子像分辨率为5～6纳米，放大倍数可从低倍至几十万倍。电子探针的元素成分检测灵敏度可达10^-6量级，可分析的元素为₅B~₉₂U（选用特殊的分光晶体，亦可分析₄Be）。

电子探针具备一套与电子光学系统共分析点的光学系统，可以直接地对样品的分析区域和分析点进行观察并确定分析位置。该光学系统的观察结果有别于以形貌观察的二次电子图像，尤其对磨制成金相样品或矿物薄片的试样来说更为方便和准确。

电子探针的检测方式为晶体分光后的X射线强度检测的波谱仪，有别于扫描电镜上先检测后分光的X射线能谱仪。前者比后者具备更高的检测分辨率，一些钢铁和矿石中常见的能谱仪很难分辨的元素（如S和Mo，以及稀土元素的分量）在波谱仪中却可以非常简便地得以分析。

因此，电子探针在科研、工业产品开发、质量管理及生产在线检查方面发挥着重要的作用。

岛津电子探针的特色

岛津公司作为专业的分析仪器生产厂家，从1960年生产出首台电子探针以来，不断追求高品质，于2010年推出新品EPMA-1720，经实际安装使用后，获得用户好评。

◆完美设计的X射线分光器可以实现高灵敏度·高精度分析

X射线取出角决定分析性能，52.512潞' type="#_x0000_t75"> 高取出角更胜一筹

分光晶体采用全聚焦Johanson（约翰逊）型晶体

最多可配置5台高灵敏度·高分率兼备的4英寸分光器

◆只需鼠标即可完成所有动态操作，大大提高了分析工作效率

◆简单的日常维护，免去后顾之忧