行业巨头梅特勒托利多参展农产品质量检测精细论坛

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分享： 2010/11/10 16:30:48

2010年10月21-23日，2010农产品质量安全检测与精细农业论坛在金秋魅力的杭州东方豪生大酒店开幕，展会期间，注册莅临的专家、学者、科技工作者逾250多人，参展企业35个，本届论坛是为了贯细落实国家关于农产品的质量安全的有关工作会议精神，推进《全国农产品质量安全检验检测体系建设》的全面发展，促进我国农产品质量安全体系与国际水平接轨，加强县、市一级农产品质量安全体系基础设施建设项目。

此次展会梅特勒-托利多公司展示了其最新的XS205DU天平、AL104梅特勒-托利多METTLER电子天平、美国RAININ(瑞宁)移液器，其中美国RAININ(瑞宁)为该其旗下公司反响强烈，下面为大家重点介绍介绍XS205DU电子分析天平的特性。

电子分析天平-XS205DU

产品参数
量程： 81/220g
精度： 0.01/0.1mg
称盘尺寸： 78×73mm
线性： ±0.2mg
外型尺寸： 263×453×322mm

产品用途
适用于各地研究所和实验室

主要特点
1.采用高精度、高分辨率后置式传感器，获得准确称量结果
2.全自动校准技术（FACT） - 温度漂移触发的天平自动内校，内置两组砝码实现线性误差校准，确保称量结果的准确性
3.变量程专利设计（DeltaRange）和双量程（DualRange）设计，满足客户对不同样品的称量需求
4.革命性的网格称量盘（SmartGrid）、悬浮在称量室中的后挂称量设计，获得快速、稳定的称量结果
5.易巧称量组件（ErgoClips），方便客户使用不同去皮容器进行称量
6.触摸屏技术（Touch screen），方便天平称量菜单和参数设置
7.可移动的显示控制终端，方便天平使用
8.完全可拆卸的防风罩设计，实现天平的快速清洁
9.内置RS232通讯接口，方便连接打印机、电脑等外围设备
10.优化天平适应性的称量参数设置，满足不同称量环境要求
11.具有简单称量、统计称量、公式称量、密度测定等内置应用程序
12.e-Loader II软件，实现更便捷的天平软件更新

公司简介

作为全球领先的精密仪器及衡器制造商，梅特勒-托利多在百年悠久发展历程中一直保持着技术和市场的领先性。如今，梅特勒-托利多提供的解决方案遍布实验室、工业及零售业（商业）的各个流程与环节，从高精度的微量分析到千吨以上的称重应用，梅特勒-托利多统一的团队、全球的服务网、完美的解决方案帮助全球用户增进效率、创造价值，轻松应对各种挑战。

更多详情，请关注该公司网站

本文转自“中国色谱网”

[来源：梅特勒-托利多中国]

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