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2010年杭州电镜会议专家厂商报告集锦

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分享: 2010/10/13 19:23:20

  仪器信息网讯 2010年10月9-11日,由中国电子显微镜学会主办、国家自然科学基金委员会、浙江大学及浙江大学材料科学与工程系协办的2010年全国电子显微会议暨第八届两岸电子显微学学术研讨会在浙江省杭州市隆重开幕。

  本次会议还邀请了国内外近百位知名学者与厂商代表作了精彩的大会报告与分会场特邀报告。下面对其中的部分精彩报告作简要介绍,以飨读者。

专家报告:电镜领域的理论研究与应用成果

浙江大学材料科学与工程系张泽院士

报告题目:外场作用下低维材料结构与性能关系的原子分辨原位显微研究

  张泽院士在报告中说到,在结构材料的研究过程中,弹性、韧性与断裂是最关键的三个阶段,而如何在原位原子尺度进行显微观察是个难题。张泽院士将原子层次显微结构分析与材料科学中重要问题相结合,系统研究解决了准晶、低维纳米材料等材料难题。

日本NEC公司Lijima教授

报告题目:温故知新-32 Years with Chinese Electron Microscopists

  Lijima教授首先回忆了他与郭可信、李芳华、朱静、范守善等多位专家在电镜领域的合作,并给予了充分的肯定。另外,作为碳纳米管的发现者,Lijima教授还介绍了其在碳纳米管领域,利用电子显微镜完成的研究工作与最新进展。

台湾中央研究院物理研究所胡宇光教授

报告题目:X-Ray Microscopy and Microangiography

  胡宇光教授对于同步辐射应用研究、同步辐射光电子能谱显微术等领域有卓着成果,开启了X光显微摄影术在生物、医学与材料科学上的广泛应用,引领了近年来科学界对X光达到崭新的境界。另外,胡宇光教授还向大家介绍了台湾的纳米科技计划蓝图。

北京大学俞大鹏教授

报告题目:阴极荧光光谱分析方法在纳米科技研究中的应用

  俞大鹏教授表示,阴极荧光光谱是一种有效的纳米尺度物性表征手段。一方面,利用直径小于1nm的电子束进行阴极荧光光谱的激发与采集,研究对应的物理性质;还可利用阴极荧光的波长选择性进行单频谱成像,研究该区域的能量分布情况。

美国加州大学康振川教授

报告题目:Roles of the ATHREM in the Li-battery and catalyst for emission control

  康振川教授表示,锂电池技术的突破对于当前全球的能源问题比较关键,其中,如何使锂电池储存更多能量、放电电流大且对电池本身无损伤是当前的研究热点,而高分辨率的透射电镜正是解决锂电池技术难题的有效手段。

美国北卡洛莱纳大学秦禄昌教授

报告题目:纳米结构LaB6新一代场发射点电子源的开发与性能

  秦禄昌教授使用了一种叫化学气相堆积法的方法,制成了单结晶的六硼化镧纳米线,然后使用电界蒸发的方式除去了纳米线表面的不纯物质,从而成功开发出了纳米结构LaB6电子源,有望使电子显微镜的识别和测定能力得到飞跃式提高。

厂商报告:电镜仪器技术进展与新产品展示

日立高技术公司章效峰先生

报告题目:HT7700-日立新概念120kv TEM

  章效峰先生说到,日立HT7700三维立体显微成像电镜具有独创的物镜极靴,是一种快速的纳米材料分析新工具,在生物、医学、软材料等领域有着广泛的应用。

蔡司公司柳雄博士

报告题目:氦离子显微镜

  柳雄博士首先介绍了蔡司公司的显微镜产品系列,然后重点阐述了蔡司公司氦离子显微镜的技术优势及应用领域,并表示,该产品系列在全球有着众多的用户群。

牛津仪器公司焦汇胜先生

报告题目:牛津仪器的最新能谱分析技术

  焦汇胜先生首先介绍了牛津仪器的纳米分析产品系列与近年来牛津仪器在能谱方面取得的技术进展,最后,焦汇胜先生重点展示了X-Max TEM产品的特点。

OSIS公司尚振华先生

报告题目:黑白世界的精彩

  尚振华先生介绍了OSIS公司Quemesa、KeenViewG2、CantegaG2、Veleta、MegaViewG2几大产品的突出优势以及其拥有的广泛用户群。

美国Gatan公司潘明先生

报告题目:Gatan GIF Quantum for Advanced Analytical TEM

  潘明先生说明了EELS(电子能量损失谱)的理论原理,并举例说明了美国Ganta公司的第四代新型能量过滤器的技术特点、应用领域。

日本电子株式会社Masashi Iwatsuki博士

报告题目:JEOL activities in Metrology and inspection instrument filed

  Masashi Iwatsuki博士介绍了ARM-200F、JEM-2800、JASM-6200、JSM-6010LA等多款电镜新产品的技术特点以及应用领域。

FEI公司Marc Peeters先生

报告题目:From resolution to solution

  Marc Peeters先生首先向大家介绍了FEI的发展历史、公司规模以及现有产品等,随后,Marc Peeters先生重点介绍了FEI公司在扫描电镜与透射电镜的技术优势。

泰思肯贸易(上海)有限公司沈凌女士作报告

  泰思肯公司现有钨灯丝、场发射、可移动式等多种电镜产品,沈凌女士特别指出,公司多个产品均拥有大视野光路设计和实时电子束追踪两大技术优势。

上海易微科技有限公司李金树先生作报告

  李金树先生用通俗易懂的语言向大家介绍了SEM原位微纳米操纵仪及TEM原位力学-电学测量表征系统的技术特点与应用领域。

[来源:仪器信息网] 未经授权不得转载

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作者:刘玉兰

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